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英國(guó)ABI-AT256測(cè)試案例-ST16C554故障器件測(cè)試報(bào)告

北京金三航科技發(fā)展有限公司主要銷售集成電路測(cè)試儀,電路板故障檢測(cè)儀,電路板反求系統(tǒng),邊界掃描測(cè)試儀,電路板維修工作站,提供英國(guó)ABI-AT256測(cè)試案例-ST16C554故障器件測(cè)試報(bào)告.

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測(cè)試時(shí)間：2011-06-30 測(cè)試結(jié)果：失敗

測(cè)試元件型號(hào)：16C554

測(cè)試設(shè)備：英國(guó)ABI-AT256

16c544故障器件測(cè)試結(jié)果圖

st16c544管腳圖

AT256 - Chip Report

Test Summary

Device:	16C554-123
Package:	68 pin PLCC
Scan Profile:	Copy of Normal Digital
Overall Result:	FAIL
Operator:	Administrator
Report Date:	30 June 2011

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提供英國(guó)ABI電路板檢測(cè)設(shè)備:電路板故障診斷系統(tǒng),電路板故障檢測(cè)儀,電路板在線維修測(cè)試儀,集成電路在線測(cè)試儀,故障電路板檢測(cè)儀,非加電測(cè)試方案,電路板功能測(cè)試方案,電路板仿真測(cè)試方案,電路板測(cè)試系統(tǒng)定制開發(fā),提供:電路板維修測(cè)試儀,電路在線維修測(cè)試儀,故障電路板檢測(cè)儀,電路板故障診斷系統(tǒng)技術(shù)培訓(xùn),測(cè)試程序定制開發(fā)服務(wù)-英國(guó)ABI中國(guó)區(qū)技術(shù)服務(wù)中心

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