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最大測試管腳數(shù):256

測試適用范圍：

元器件測試-適用于所有類型的集成電路的測試和元器件的篩選測試
電路板測試-適用各種電路板的檢測（附加測試電纜線和各種封裝的測試夾）

測試原理（v-i曲線測試）：

對元器件的每個管腳施加一個安全的低功率的掃描驅(qū)動信號，產(chǎn)生一個阻抗特征圖，以備對比和存儲。
被測器件和數(shù)據(jù)庫中標準動態(tài)阻抗圖相比對，阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。
測試信號可設(shè)定的參數(shù)包括: 電壓、波形、源電阻、頻率。可根據(jù)需要進行調(diào)整以便得到準確的信息。

集成電路測試操作如此簡單:

1.從數(shù)據(jù)庫選擇要測試的集成電路型號.
2.將集成電路插入測試座.
3.執(zhí)行測試
4.得到PASS或FAIL的測試結(jié)果.

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商品輸入檢驗

不需要電子專業(yè)知識.
適用于所有集成電路/封裝件.及各種類型電路板
靈活、好安裝、宜操作.
測試結(jié)果直接: PASS或FAIL.
軟件可設(shè)定各種測試條件.
可提供完整的元件測試分析報告.

適合不同封裝形式的元件:

-雙列插腳(DIL)
-小型封裝集成集成電路(SOIC)
-小型封裝(SSOP, TSOP)
-塑料無引線芯片載體封裝(PLCC)
-四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP)
-球門陣列封裝(BGA)
注意: AT系列不受限于只能測試電子集成電路, 也可用于整個模塊。

測試通道

標準提供多達128個測試通道, 可設(shè)定用于不同的元器件封裝。
升級模塊：64通道
可擴充到192/256個測試通道。

用兩種模式掃瞄:

?一般模式: 掃描信號是以一固定管腳為參考點, 測試信號施加到待測元器件上。
?矩陣模式: 掃描信號是以元器件的各個管腳為參考點, 測試信號循環(huán)組合施加到待測元器件上。

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通用型PLCC轉(zhuǎn)接器(用于測試有20～84腳的PLCC封裝)

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數(shù)據(jù)庫

用戶可根據(jù)自己的需要，用性能完好的器件創(chuàng)建ic的測試數(shù)據(jù)庫，以備日后測試使用。創(chuàng)建一個測試庫僅需要數(shù)秒的操作時間，操作十分簡單容易。

結(jié)果比較型式:

將數(shù)據(jù)庫中的IC與待測ic的V-I曲線相比較, 即可判定被測IC的好壞,提供兩種比較型式:

?與數(shù)據(jù)庫中元件比較: 被測IC的V-I曲線與數(shù)據(jù)庫中的相同型號的IC比較
? 被測IC之間比較比較: 多個集成電路的之間的V-I曲線相比較。

軟件- 靈活性

1)軟件提供測試庫圖形化修改功能，以方便用戶制作不同新封裝形式器件的測試庫,
2)軟件可以自定義各個通道的使用，一臺機器可以同時檢測多個器件

報告

1）軟件可產(chǎn)生一詳細的測量報告, 包含集成電路相片。這份報告可用于深入分析好壞集成電路的差異具體原因。
2）用戶可處理集成電路的各種信息; 集成電路的動態(tài)阻抗圖可儲存在pc中，并可隨時讀出, 以與新的掃瞄阻抗圖作比較。
3）為了今后使用方便, 可在集成電路的存儲數(shù)據(jù)文件夾內(nèi)增加其它信息, 包括:相片、PDF文件或甚至文字與電子表格。

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針印(PinPrint)動態(tài)阻抗詳細分析元件的管腳.

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定制化的報告(PinPrint).

轉(zhuǎn)接器

1）標準型:

用于SOIC、SSOP、TSOP及PLCC封裝; 也有提供AT系列校正工具組。

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標準SOIC轉(zhuǎn)接器

通用型:

用于SOIC及PLCC封裝; 一個轉(zhuǎn)接器即適用于各種芯片尺寸, 測試有20、28、32、44、52、68、84腳的集成電路。

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一個轉(zhuǎn)接器即適用于測試寬0.15”～0.6”達44腳的集成電路。

客制型:

可訂制各種封裝的轉(zhuǎn)接器, 包括: BGA、QFP; 請進一步洽詢, 以設(shè)計符合您需求的轉(zhuǎn)接器。

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BGA插座轉(zhuǎn)接器

技術(shù)規(guī)格

掃描測試波形	正弦波,鋸齒波，三角波
掃描測試頻率	6種頻率供選擇:100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz
掃描電壓(Vs)	4種峰值電壓選擇:-20~+20V 步進0.1V
掃描源電阻(Rs)	3種電阻供選擇:1kΩ, 10kΩ,100kΩ
掃描通道	AT128通道數(shù)量:128通道(已停產(chǎn)) AT192通道數(shù)量:192通道 AT256通道數(shù)量:256通道顯示模式:VI曲線圖掃描模式:手動或連續(xù), 或自行設(shè)定掃描次數(shù)
掃瞄模式	一般模式:掃描信號是以一固定管腳為參考點,測試信號施加到待測元器件上. 矩陣模式:掃描信號是以元器件的各個管腳為參考點,測試信號循環(huán)組合施加到待測元器件上.
電腦連接	USB 連接電腦使用,標準配置含上位機軟件
適合不同封裝形式元件:	適合不同封裝形式的元件: -雙列插腳(DIL) -小型封裝集成集成電路(SOIC) -小型封裝(SSOP, TSOP) -塑料無引線芯片載體封裝(PLCC) -四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP) -球門陣列封裝(BGA) 注意: AT系列不受限于只能測試電子集成電路, 也可用于整個模塊及電路板。
測試報告	可自行編輯測試報告
功率需求	線路電壓:85～264VAC 頻率:47～63Hz 功率:最大150W
尺寸/重量	尺寸:27x25x9cm;重量:3.5kg
操作溫度.濕度	溫度:10°C～30°C濕度: 20～80% RH。
保修期	一年
認證	CE認證& RoHS合格。
計算機規(guī)格需求	Microsoft Windows XP或Vista Pentium 4或更高最小的RAM:512 MB 硬盤空間:200MB USB2.0高速傳輸鼠標,鍵盤與屏幕
標準配件:	用戶手冊。 USB導線。軟件CD(含驅(qū)動程序與操作手冊)。
選購配件:	校正工具組。各種轉(zhuǎn)接器。

儀器用途一

翻新及二手器件檢測

? 可由倉庫部門在收到集成電路時進行檢查, 以確保收到的集成電路是真品; 商品輸入部門的員工不需要電子知識即可操作這個系統(tǒng)。
? 檢查可能偽造的集成電路, 并分析供貨商的測試數(shù)據(jù)。用戶可應(yīng)用完整的報告, 確定問題的來源。

翻新及二手器件檢測儀

能快速簡單檢測出翻新IC及集成電路測試的解決方案。

透過精密的PinPrint(針印)測試算法則,能夠辨識出有不同內(nèi)部結(jié)構(gòu)或根本沒有結(jié)構(gòu), 甚至是由不同廠家所制造的集成電路。

他就像您的電子守衛(wèi), 守衛(wèi)在您生產(chǎn)設(shè)備之入口, 不受偽造元器件之滲透傷害。

何謂偽造翻新集成電路

Counterfeit [koun-ter-fit](形容詞): 意思是仿造, 以便虛偽不實地假裝是真品。

制造膺品(仿冒品)集成電路是非法的, 會出現(xiàn)(仿冒品)是因為電子零件的可轉(zhuǎn)讓。全球任何需要制造PCB集成電路的公司都在承擔這個風險, 也或許曾經(jīng)收到過大批的”不良”元器件。

仿冒可透過各種過程達成: 在極不可靠的過程里, 把集成電路從報廢/棄置的電路板中取出, 接著作表面處理維修; 再加上偽相關(guān)信息于集成電路上, 包括制造廠商標, 然后拿來當作真品賣給粗心的買家。另一個方法則是真的憑正規(guī)的制造能力, 在標準工時以外的大夜班(ghost shift)生產(chǎn)集成電路, 然而, 以那種方式生產(chǎn)的芯片含有許多制造上的瑕疵, 有些甚至沒有硅片(silicon die)。

很不幸地, 得一直等到把它們放在PCB上, 在生產(chǎn)團隊對完整的組裝進行第一次測試時, 才可能鑒別到仿造的集成電路。如此將導致昂貴的過程－辨識問題集成電路、再把它們從生產(chǎn)中的所有電路板上拿掉。在某些情況下, 甚至得把整批成品回收回工廠。

5年來, 仿冒集成電路的舉發(fā)呈倍數(shù)地增加; 2008年, 仿冒IC的出口量占全球貿(mào)易總額的8%以上, 相當于損失60億的銷售額。

英國ABI-AT256 集成電路測試儀適配座部分選配清單