北京金三航科技發(fā)展有限公司主要銷售集成電路測(cè)試儀,電路板故障檢測(cè)儀,電路板反求系統(tǒng),邊界掃描測(cè)試儀,電路板維修工作站,提供某廠計(jì)量處失效元件-CD54HC14F3A測(cè)試報(bào)告.
——AT256 - Chip Report
Test Summary
| Device: | 008 |
|---|---|
| Package: | 14 pin DIL narrow |
| Scan Profile: | Low V Digital |
| Overall Result: | FAIL |
| Operator: | Administrator |
| Report Date: | 18 October 2011 |
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2019-03
某廠計(jì)量處失效元件-CD54HC14F3A測(cè)試報(bào)告evice:008;Package:14 pin DIL narrow;Scan Profile:Low V Digital;Overall Result:FAIL;Operator:Administrator;Report Da…… [了解更多]
提供英國(guó)ABI電路板檢測(cè)設(shè)備:電路板故障診斷系統(tǒng),電路板故障檢測(cè)儀,電路板在線維修測(cè)試儀,集成電路在線測(cè)試儀,故障電路板檢測(cè)儀,非加電測(cè)試方案,電路板功能測(cè)試方案,電路板仿真測(cè)試方案,電路板測(cè)試系統(tǒng)定制開發(fā),提供:電路板維修測(cè)試儀,電路在線維修測(cè)試儀,故障電路板檢測(cè)儀,電路板故障診斷系統(tǒng)技術(shù)培訓(xùn),測(cè)試程序定制開發(fā)服務(wù)-英國(guó)ABI中國(guó)區(qū)技術(shù)服務(wù)中心
——英國(guó)ABI中國(guó)區(qū)技術(shù)服務(wù)中心：非加電測(cè)試方案,電路板功能測(cè)試方案,電路板仿真測(cè)試方案,電路板測(cè)試系統(tǒng)定制開發(fā),電路板故障診斷系統(tǒng)技術(shù)培訓(xùn),測(cè)試程序定制開發(fā)服務(wù)。
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